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MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪

电话:15800578230,QQ:525903710  来源:轮廓仪  作者:轮廓测量仪事业部

MARSURF XC 20 MIT PCV 200 轮廓测量站
轮廓测量的国际基准
MarSurf XC 20 被公认为轮廓评估的终极产品。开始于 30 年前的 Konturograph 产品 - 由驱动装置和 X-/Y-记录仪构成 #96 现已通过良好的技术发展为放心质量的轮廓测量系统。微调的设备配置可提供出色的性能标准。驱动装置和测量立柱通过可靠的测量和评估软件进行控制和定位。
可以显示用户提示
交互控制元素支持评估和自动例行程序
使用双探针测头测量上下轮廓;也可对两个轮廓进行相对评估
剖面图像,可评估各剖面的不同参数
可对孔或陡峭对象等障碍进行分段测量
支持导入和导出 dxf 文件以对比设定点/实际值
PCV 200 驱动装置采用专利的测杆安装方式,无需工具即可完成可重复性测杆更换
专利测头系统,提高测量站灵活性
手动可变扫描力,同样提高灵活性
使用直线和圆弧合成标称轮廓
方便比较标称和实际轮廓 可通过轮廓内的描述选择不同的公差
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪技术参数:

接触速度(Z 方向)
0.1 至 1 mm/s
测杆长度
175 mm, 350 mm
测量速度(文本)
0.2 mm/s 至 4 mm/s
针尖半径
25 μm
扫描长度末尾(X 方向)
200 mm
分辨率
Z 方向,相对探针针头:0.38 μm(350 mm 测杆)/ 0.19 μm(175 mm 测杆)
在 Z 方向,相对于测量系统:0.04 μm
扫描长度开始(X 方向)
0.2 mm
取样角
在平滑表面上,取决于偏差:后缘高至 88°,前缘高至 77°
定位速度(文本)
X 方向返回速度:0.2 至 8 mm/s
Z 方向:0.2 至 10 mm/s
导块偏差
< 1 μm(200 mm 以上)
测量范围 mm
(Z 方向)50 mm
扫描长度(文本)
0.2 mm 至 200 mm
测量力 (N)
1 mN 至 120 mN,以下和以上(可在 MarSurf XC 20 中设置)

MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪应用:
机器建造:轴承、螺纹、螺纹柱、滚珠丝杠、轴、支架、阀门
生产领域最需要的测量:部分自动流程中的轮廓测量
汽车业:转向、刹车系统、变速箱、曲轴、凸轮轴、气缸盖
医疗:髋关节和膝关节内用假体的轮廓测量,医用螺丝的轮廓测量,种植牙的轮廓测量
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪附件:
可选:
MarSurf ST 750 测量立柱
手动控制面板带操纵杆和显示器 MCP 21
平行虎钳,V 形块
设备工作台
软件选项:
螺纹评定选项
斜面选项
QS-STAT / QS-STAT Plus 选项
拓扑选项
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪版本:
结合精密驱动和测头系统 LD 130 / 260
结合测量立柱 ST 500 或 ST 750
MARSURF-XC20 表面粗糙度轮廓仪货运:
MarSurf XC 20 包含计算机、MidRange Standard 包括 XC 20 软件和 Mahr 许可密钥
TFT 显示器
MarSurf PCV 200 驱动单元
MarSurf ST 500 测量立柱包含支架
校准套件
MCP 23 手动控制面板
CT 300 XY 工作台

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